產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER
當前位置：首頁
產(chǎn)品中心光譜系統(tǒng)顯微缺陷膜厚
產(chǎn)品分類
相關(guān)文章
● 采用分光干涉法 ● 搭載高精度FFT膜厚解析系統(tǒng)（專zhuan利 第4834847號） ● 使用光學光纖，可靈活構(gòu)筑測量系統(tǒng) ● 可嵌入至各種制造設(shè)備。 ● 實時測量膜厚 ● 可對應(yīng)遠程操作、多點測量 ● 采用壽命長、安全性高的白色LED光源
更新時間：2025-01-23
產(chǎn)品型號：
瀏覽量：328
PP-1000小角激光散射儀，利用小角激光散射法（Small Angle Laser Scattering，簡稱SALS），可以對高分子材料和薄膜進行原位檢測，實時解析。與SAXS和SANS的裝置相比，檢測范圍更廣。利用偏光Hv散射測量可以進行光學各向異性的評價，解析結(jié)晶性薄膜的球晶半徑，偏光Vv散射測量可以進行聚合物混合的相關(guān)距離的分析。
更新時間：2025-01-23產(chǎn)品型號：瀏覽量：326
以最zui高機型MCPD-9800為首，一共有3種對應(yīng)12波長領(lǐng)域的測量儀。 我們可以根據(jù)客戶的需求和用途提出最適shi合的方案。 不同評價方法對應(yīng)不同設(shè)備
更新時間：2025-01-23產(chǎn)品型號：瀏覽量：334
nanoSAQLA是一臺通過動態(tài)光散亂法（DLS法）測量粒徑（粒徑0.6nm~10um）的裝置。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內(nèi)的多檢體測定的新光學系統(tǒng)，實現(xiàn)了實驗室必需的輕量、小型化、標準1分鐘的高速測定。 另外，這是一款非浸泡型、不受接觸器影響、無需自動取樣器、標準配備“5檢體連續(xù)測量”的新產(chǎn)品。
更新時間：2025-01-23產(chǎn)品型號：瀏覽量：250
●1個單元可輕松連續(xù)測量5個樣品。 ●實現(xiàn)了在沒有自動進樣器的情況下難以實現(xiàn)的多個樣品的連續(xù)測量，也可以通過改變每個樣品的條件進行測量。 ●標準測量時間為1分鐘的高速測量，通過自動調(diào)整從濃縮樣品到稀釋樣品的最佳測量位置，實現(xiàn)約1分鐘的高速測量。 ●配備簡易測量功能（一鍵開始測量）軟件，簡單易懂，無需任何復雜操作。 ●內(nèi)置非浸入式電池塊，無需分裝，無污染，每個電池都是獨立的，無需擔心污染。
更新時間：2025-01-23產(chǎn)品型號：瀏覽量：231
●支持長達 2400 毫米的 LED 照明燈具的光分布測量 ●還支持有機EL和大型顯示器的光分布測量 ●可以自動控制2軸測角儀測量每個角度的光譜分布，并通過球帶系數(shù)法獲得總光譜通量、總光通量、色度、色溫等。 ●采用新型檢測器，可進行寬動態(tài)范圍測量與 IESNA LM-75 兼容 ●GP-2000 兼容 Type B 和 Type C ●支持紫外和近紅外區(qū)域的配光測量
更新時間：2025-01-23產(chǎn)品型號：瀏覽量：266公司郵箱： qgao@buybm.com
服務(wù)熱線： 021-61052039
公司地址： 上海市浦東新區(qū)疊橋路456弄創(chuàng)研智造C7區(qū)301室
Copyright © 2025 上海波銘科學儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號：滬ICP備19020138號-2
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
關(guān)于我們
公司簡介 企業(yè)文化 榮譽資質(zhì) 聯(lián)系我們快速通道
產(chǎn)品中心 新聞中心 技術(shù)文章 在線留言推薦產(chǎn)品
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 半導體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng) RU120便攜式拉曼光譜儀
